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岱美收到客戶FR-Scanner-RΘ350HW 膜厚儀訂單

發表時間:2026/9/17 15:25:20

該客戶是在上交所主板上市的公司,是一家以中國為基地、面向全球的微觀加工設備公司,為集成電路和泛半導體行業提供競爭力的設備和高品質的服務。該公司已經成為一家快速成長的微觀加工設備公司,在技術創新、產品優化和市場準入方面取得了重大突破,贏得了眾多客戶和供應廠商的信任和支持,成為國際半導體微觀加工設備產業競爭力的一顆新星。該客戶申請的數量已經超過2700個,在海外超過10個國家和地區的銷售網絡,同時獲得了超過100項各種不同的獎項。


ThetaMetrisis 是從希臘國家科學研究發展中心獨立發展出來的高科技公司,主要技術是使用光學反射光譜分析法去精確量測單層和多層厚度以及折射率,厚度的量測范圍從幾納米到微米級別。岱美是ThetaMetrisis在中國的代理商,憑借多年的行業積累同時結合ThetaMetrisis的的技術性能,使該測量產品在市場上占有很高的聲譽和地位。


圖片


FR-Scanner-RΘ350HW NIR-N3是一款精確測量半導體以及介電材料超厚層的機器,有先進的光學期間,此款設備可以測量光滑或粗糙的膜層以及較厚的襯底并帶有mapping功能。可以應用于厚玻璃的厚度測量(厚度可達1毫米,透明或霧面);晶圓厚度測量(可測量直徑高達700mm的圓片,并能測量單面或者雙面拋光產品)。此款型號的機器提供了單點測量和mapping測量模式適配不同客戶的不同的需求。