岱美中國拿到Thetametrisis 1套膜厚儀的訂單。客戶位于浙江，是一家研究院，擁有多個半導(dǎo)體設(shè)備研發(fā)技術(shù)，主要為半導(dǎo)體材料的研究。

FR-mini VIS/NIR膜厚測量儀采用的是波長范圍在190-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-100um范圍的膜層厚度，準(zhǔn)確度高達(dá)0.1%或1nm，精度為0.05nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備